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半导体产品的烤机试验，将产品暴露在高温下来强制缺陷发生，这种可靠性试验属于 
A、可靠性测定试验
B、可靠性鉴定试验
C、可靠性验收实验 
D、环境应力筛选试验 
【正确答案】：D
【题目解析】：半导体产品的烤机试验，将产品暴露在高温下来强制缺陷发生，这种可靠性试验属于环境应力筛选试验